• 离子束去疤

    童凝蝶离子束去疤

    纳瑞科技的服务将为IC芯片设计工程师、IC制造工程师缩短设计、制造时间,增加产品成品率。我们将为研究人员提供截面分析,二次电子像,以及透射电镜样品制备。我们同时还为聚焦离子束系统的应用客户提供维修、系...

    2024-03-26 20:08:11291
  • fai芯片外围接口

    童凝蝶fai芯片外围接口

    纳瑞科技的服务将为IC芯片设计工程师、IC制造工程师缩短设计、制造时间,增加产品成品率。我们将为研究人员提供截面分析,二次电子像,以及透射电镜样品制备。我们同时还为聚焦离子束系统的应用客户提供维修、系...

    2024-03-26 20:06:27611
  • 手动离子切割视频

    童凝蝶手动离子切割视频

    纳瑞科技的服务将为IC芯片设计工程师、IC制造工程师缩短设计、制造时间,增加产品成品率。我们将为研究人员提供截面分析,二次电子像,以及透射电镜样品制备。我们同时还为聚焦离子束系统的应用客户提供维修、系...

    2024-03-26 20:04:21438
  • 芯片发布到上市需要多久

    童凝蝶芯片发布到上市需要多久

    fib芯片提供维修、系统安装、技术升级换代、系统耗材,以及应用开发和培训。芯片发布到上市需要经过一系列的流程,包括研发、测试、生产、包装等环节。这个过程需要的时间因芯片类型和公司规模而异,一般需要几个...

    2024-03-26 20:02:11520
  • bga芯片植球

    童凝蝶bga芯片植球

    fib芯片提供维修、系统安装、技术升级换代、系统耗材,以及应用开发和培训。球栅极(BGA)芯片植球是一种将裸露的集成电路芯片插入到球栅极(BGA)插件的表面,通过该插件与PCB之间的电气连接来实现芯片...

    2024-03-26 20:00:13582
  • 纳米压痕载荷位移曲线分析方法是什么

    童凝蝶纳米压痕载荷位移曲线分析方法是什么

    fib芯片提供维修、系统安装、技术升级换代、系统耗材,以及应用开发和培训。纳米压痕载荷位移曲线分析方法是一种用于分析材料在纳米尺度下的力学性能的方法。在材料的研究和设计中,了解材料的力学性质是非常重要...

    2024-03-26 19:58:12416
  • 测量仪脚架

    童凝蝶测量仪脚架

    纳瑞科技(北京)有限公司(IonBeamTechnologyCo.,Ltd.)成立于2006年,是由在聚焦离子束(扫描离子显微镜)应用技术领域有着多年经验的技术骨干创立而成。测量仪脚架是一种用于支撑测...

    2024-03-26 19:56:20535
  • 芯片fa分析

    童凝蝶芯片fa分析

    芯片FA分析:深入解析性能与功耗之平衡随着信息技术的快速发展,芯片设计在现代电子设备中的地位日益凸显。如何在性能与功耗之间找到平衡点,实现高效节能的芯片设计仍然具有挑战性。本文将通过分析芯片性能评价指...

    2024-03-26 19:54:21424
  • 芯片分析结果: arr(1-22)x2,(XN)x1

    童凝蝶芯片分析结果: arr(1-22)x2,(XN)x1

    纳瑞科技的服务将为IC芯片设计工程师、IC制造工程师缩短设计、制造时间,增加产品成品率。我们将为研究人员提供截面分析,二次电子像,以及透射电镜样品制备。我们同时还为聚焦离子束系统的应用客户提供维修、系...

    2024-03-26 19:52:22362
  • 纳米压痕操作流程视频

    童凝蝶纳米压痕操作流程视频

    纳瑞科技的服务将为IC芯片设计工程师、IC制造工程师缩短设计、制造时间,增加产品成品率。我们将为研究人员提供截面分析,二次电子像,以及透射电镜样品制备。我们同时还为聚焦离子束系统的应用客户提供维修、系...

    2024-03-26 19:50:15358